1. Mitar Perušić, Tehnološki fakultet u Istočnom Sarajevu,
Republic of Srpska, Bosnia and Herzegovina
Kada govorimo o karakterizaciji materijla, raznovrsne analitičke metode i tehnike se koriste se u karakterizaciji isitih, jedna od ovih metoda je rentgenska difrakciona analiza ili X-ray analiza. Ona je po svemu sudeći i najvažnija bazičnih metoda karakterizacije materijla, a dopunjuje se sa optičkim metodama i/ili elektronskom mikroskopijom, kao i rentgenskom spektroskopija, posebno u slučajevima kvantifikacije faza. Prije svega, koristi se za geološka i mineraloška istraživanja praškastih materijala. Dakle, ova metoda omogućava istraživačima i analitičarima brzu i efikasnu identifikaciju kristalnih supstanci u kvalitativnoj hemijskoj analizi, pod određenim uslovima i primjenom odgovarajućih tehnika može se koristiti i u kvantitativnim određivanjima.
Ključne reči :
Tematska oblast:
SIMPOZIJUM A: Nauka materije, kondenzovane materije
Datum:
21.04.2012.
Br. otvaranja:
710
Contemporary Materials - 2012 - Savremeni materijali
Datoteka uz rad
(1.39 MB)
