Metode proračuna fraktalne dimenzije zahtevaju snimke velikih rezolucija i adekvatnih veličina skeniranih površina, sa stanovišta skale na kojoj se javlja fraktalno ponašanje. Operatori na uređajima, s jedne strane, postavljaju te parametre radi smanjenja vremena skeniranja na osnovu iskustva i znanja. S druge strane, inženjeri traže parametre, koji će zadovoljiti njihove zahteve. U cilju prevazilaženja ovih suprostavljenih zahteva, u ovom radu, je korišćena analiza varijansi, kako jednostruka tako i višestruka, radi utvrđivanja signifikantne veličine i površine snimka. Zaključak, ovde sprovedenog istraživanja, pruža smernice na osnovu kojih će se doneti odluka vezana za adekvatne parametre skeniranja pri budućim ispitivanjima nanofotonskih materijala.
Ključne reči :
Tematska oblast:
SIMPOZIJUM B: Biomaterijali i nanomedicina
Datum:
30.05.2012.
Br. otvaranja:
409
Contemporary Materials - 2012 - Savremeni materijali
Datoteka uz rad
(69.50 KB)
