1. Svetlana Pelemiš, Технолошки факултет у Источном Сарајеву,
Republic of Srpska, Bosnia and Herzegovina
2. Драгољуб Мирјанић, Академија наука и умјетности Републике Српске,
Republic of Srpska, Bosnia and Herzegovina
3. Miladin Gligorić, Технолошки факултет у Источном Сарајеву,
Republic of Srpska, Bosnia and Herzegovina
Постоји мноштво различитих метода карактеризације наноматеријала. У овом раду биће описано неколико дифракцијских метода. Најзначајнија је рендгенска дифракција која даје информације о уређењу масивних узорака. Затим електронска дифракција којом се испитују врло мала подручја, LEED, RHEED и неутронска дифракција.
Кључне речи :
Тематска област:
СИМПОЗИЈУМ А - Наука материје, кондензоване материје и физикa чврстог стања
Датум:
18.07.2017.
Contemporary Materials 2017 - Савремени Материјали